Rimage面反射率检测仪
一键检测硅片产品反射率
R-image是一款多功能快速大面积定量成像设备，支持多种类型硅片的反射率、膜厚以及绕镀的检测。

Rimage面反射率检测仪

R-image检测仪是一款多功能检测仪器，具有检测整个硅片表面的反射率、膜厚和侧面绕镀的功能。R-image检测仪不仅能够精确检测硅片上一个任意小区域的反射率、膜厚，而且还能根据客户的需求，显示指定区间的反射率、膜厚，可以将反射率、膜厚的具体分布情况和占比同时展示出来。R-image检测仪支持将客户所需要的数据和图片保存到指定的文件夹。通过选择不同的模式可以支持单晶、多晶多种类型的硅片检测。如图所示，R-image检测仪主要由电脑和测试设备两部分组成。

0
+台
出货量
0
mm
最大硅片尺寸
0
%
反射率检测最大值
0
%
数据准确性
设备原理介绍
Equipment Principle
光伏 / 光学 / 机械设备 / 原理
软件使用
THE MAIN TITLE
AI / 大数据模型 / 软件 / 自动化
操作方法
Setup
第一步
启动软件
在桌面双击Rimage图标即可启动软件，选择好测试类型（检测哪种硅片的反射率或者膜厚）。
第三步
拍照测试
鼠标单击拍照测试按钮开始进行测试，第一次测试相机需要初始化设置，后面每次测试时间小于0.3s。
第五步
区间显示
如果客户需要查看特定区间的反射率或者膜厚值，可以在横线上输入想要查看的显示区间。
开机准备
Rimage检测仪与电脑主机、显示器的接线连接好，三者都需要接通电源。
第二步
保存设置
鼠标单击拍照测试按钮开始进行测试，第一次测试相机需要初始化设置，后面每次测试时间小于0.3s。
第四步
计算区域数值
点击选择区域启动按钮，然后就可以在硅片彩色图像上选择任意区域，计算其反射率或者膜厚值。
第六步
操作视频
____
快速上手及学习
助力光伏工艺监控
____
性能总结/指标

项目

参数说明

检测功能

面反射率

检测硅片类型

蓝膜、单晶背抛光、碱制绒、多晶背抛光

测试重复性


支持158.75/166/182/210/230mm等尺寸硅片和半片（可以根据需求进行定制）



测试面积

整片 < 0.3S

测试时间

定制LED面光源


探测器


二维CCD阵列、分辨率2240*2216


电压、功率


220V、100W


光源寿命

> 1500天


设备外形尺寸

长、宽、高：473mm、380mm、646mm
托盘拉开长度：770mm
重量：25kg


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