Square-R方阻测量仪
Square-R方阻测量仪是一款非接触式、基于涡流法原理的方阻测量设备,能够测量晶圆片、光伏硅片等样品。
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无损检测且检测速度快




面方阻mapping分布图




集成化设计,可进行运动扫描


检测厚度和薄膜缺陷


产品特点
无损检测
避免了对样品的物理损伤。特别适合对贵重或易损材料进行分析,确保了样品的完整性和后续使用。
高精度
准确测量样品的方阻仪,确保在各种工艺流程中获得可靠的数据支持,为后续决策和材料改进提供科学依据。
自动化操作
具有自动化在线检测的能力,可以无缝集成到现有生产线中,提高生产效率并减少人为误差,确保快速、实时的数据监控与反馈。软件操作简单,一键测量。
单点和多点位mapping支持
支持定制的离线和在线检测,可以根据需求来选择单点位检测和基本程序采点的多点位检测,mapping支持
核心功能
表征和分析
我们以“专注做好品质,用心做好服务”为核心价值,一切以用户需求为中心,希望通过专业水平和不懈努力,重塑在客户心中良好的形象,为企业产品推广文化发展提供服务指导
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多种Mapping功能分析
请针对膜层材料和半导体行业需求,开发多种mapping功能
二维数值图、二维颜色mapping图、二维数值mapping图、二维颜色等值线图等
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